Poznań, ul. Piotrowo 3
tel. 061 665-2324
fax 061 665-2326
poczta elektroniczna
Zobacz w Zumi
Godziny otwarcia:
Pn.-Pt. 9:30-17:00
Sob. 9:30-14:00
w naszej księgarni:
11842
ANALIZA WYNIKÓW POMIAROWYCH W ELEKTROTECHNICE W ŚRODOW. MATHCAD
Autor: JANKOWSKI M.Wydawca: Wydawnictwo Akademii Morskiej w Gdyni
Rok wydania: 2007
Liczba stron: 167
Cena: 34.49 zł
SPIS TREŚCI...
BADANIA WIZUALNE URZĄDZEŃ TECHNICZNYCH
Autor: HLEBOWICZ J.Wydawca: Gamma
Rok wydania: 2002
Liczba stron: 76
Cena: 31.50 zł
Spis treści...
Brak dodatkowego opisu tej pozycji.
LABVIEW W PRAKTYCE
Autor: CHRUŚCIEL M.Wydawca: Wydawnictwo BTC
Rok wydania: 2008
Liczba stron: 182
Cena: 70.00 zł
Książka jest poradnikiem przygotowanym z myślą o elektronikach i automatykach (zarówno kadrze inżynierskiej jak i studentach uczelni...
METODY RADIOLOGICZNE TERMINOLOGIA
Autor: BESZTAK K.,JEZIERSKIWydawca: Biuro Gamma
Rok wydania: 2007
Liczba stron: 124
Cena: 42.00 zł
Brak dodatkowego opisu tej pozycji.
METROLOGIA ELEKTRYCZNA
Autor: CHWALEBA A,PONIŃSKIWydawca: WNT
Rok wydania: 2003
Liczba stron: 487
Cena: 72.45 zł
W podręczniku omówiono podstawy metrologii elektrycznej, a także klasyfikację, zasady działania i właściwości metrologiczne narzędzi pomiarowych. Ograniczono opis tradycyjnych rozwiązań konstrukcyjnych przyrządów, przetworników i układów...
METROLOGIA TECHNICZNA
Autor: KOŁODZIEJ A.Wydawca: Wydawnictwo Uczelni Państwowej Wyższej Szkoły Zawodowej im. Prezydenta Stanisława Wojciechowskiego w Kaliszu
Rok wydania: 2008
Liczba stron: 230
Cena: 28.50 zł
Do praktycznego poznania i stosowania metod pomiarowych, opanowania sztuki mierzenia i poprawnego opracowania wyników pomiarów wielkości fizycznej służą ćwiczenia laboratoryjne. Umiejętności te są szczególnie istotne w...
NIEPEWNOŚĆ POMIAROWA W BADANIACH EMC POMIARY EMISYJNOŚCI RADIOELEK.
Autor: SROKA J.Wydawca: Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej
Rok wydania: 2009
Liczba stron: 164
Cena: 21.00 zł
Niepewność jest pojęciem statystyki matematycznej używanym do opisu wyników pomiarów. Podaje się ją za pomocą poziomu i przedziału ufności.
PODSTAWY METROLOGII WYBRANE ZAGADNIENIA
Autor: WERSZKO M.Wydawca: DWSPiT Polkowice
Rok wydania: 2010
Liczba stron: 88
Cena: 21.00 zł
SPIS TREŚCI
Brak dodatkowego opisu tej pozycji.
Nie masz jeszcze konta?
Możesz je założyć tutaj.
Zapomniałeś hasła? Kliknij tutaj.
0.00 zł
